日本JEOL 场发射电子探针显微分析仪JXA-iHP200F

产品特点：

电子探针显微分析仪在钢铁、汽车、电子零件和电池材料等各种工业领域，作为研究开发和的分析工具被广泛使用，其用途越来越广。此外，在学术领域 ，地球空间科学、材料科学领域也在广泛使用，矿物等资源能源研究、各种新型材料研究等，期待在各种各样前沿研究中做出贡献。与此相应，在保持高局部微量元素分析性能的同时，追求每个人都能简单快速地使用好仪器。JXA-iHP200F能更加有效地进行观察分析操作，是更的一体化集成场发射EPMA。

* EPMA是Electron Probe Microanalyzer简称